電容屏點(diǎn)擊劃線壽命試驗(yàn)機(jī)滿足電容屏精度、抖動(dòng)性、線性度、靈敏度等指標(biāo)測(cè)試：可以調(diào)用程序內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試軌跡，也可以自編測(cè)試軌跡，極大地提高了測(cè)試效率（標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試圖形程序已內(nèi)置） 1、精度測(cè)試：
測(cè)試方法：參照下圖所示的區(qū)域?qū)?3個(gè)圓形區(qū)域用接地的標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）進(jìn)行觸摸，測(cè)試觸摸要20次以上，每次觸摸100ms，然后抬起500ms。記錄下TP報(bào)出的坐標(biāo)，圖2中區(qū)域劃分成4×4，長(zhǎng)寬計(jì)算如圖所示（W-5）/4，青色為非邊緣區(qū)（觸摸點(diǎn)1、2、3、4、5），藍(lán)色為邊緣區(qū)（觸摸點(diǎn)6、7、8、9、10、11、12、13）。
判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm（非邊緣區(qū)），±2mm（邊緣區(qū)），超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。
2、抖動(dòng)測(cè)試：
測(cè)試方法：參照上面精度測(cè)試中圖所示，對(duì)每個(gè)點(diǎn)用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）進(jìn)行觸摸，不支放置5S，記錄下坐標(biāo)。
判定標(biāo)準(zhǔn)：記錄下的坐標(biāo)有無(wú)超出±1mm（非邊緣區(qū)），±1.5mm（邊緣區(qū)），超出結(jié)論為NG，不超出結(jié)論為OK。
3、線性度測(cè)試：
測(cè)試方法：參照下圖中左邊三個(gè)所示的路徑用接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）分別以5mm/S和50mm/S畫線，記錄下坐標(biāo)的偏離度，其中豎線路徑從左到右分別為豎1到豎5，從上到下為橫1到橫5，從左上角到右下角為左對(duì)角，從右上角到左下角為右對(duì)角。
判定標(biāo)準(zhǔn)：坐標(biāo)的偏離度如上右圖所示偏離超出±1mm的為NG，不超出的為OK
4、靈敏度測(cè)試：
測(cè)試方法：參照右圖對(duì)TP屏幕進(jìn)行劃分Nx×Ny，Nx=W/1mm，Ny=H/1mm，按所示的路徑有接地標(biāo)準(zhǔn)銅柱（Ø5mm、Ø6mm、Ø8mm，具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）以5mm/S畫線，觀察是否有斷線。
判定標(biāo)準(zhǔn)：若有斷線為NG，否則為OK。
5、劃線測(cè)試
測(cè)試方法：參照下圖所示對(duì)TP進(jìn)行分觸摸點(diǎn)定位，用銅柱（具體用哪個(gè)直徑銅柱根據(jù)實(shí)際項(xiàng)目需求）分別以高速1S/點(diǎn)，中速1.5S/點(diǎn)，低速2S/點(diǎn)依次觸點(diǎn)，其中先以高速觸完所有屏幕點(diǎn)后停4分鐘，再接著從頭開始，如此反復(fù)4小時(shí)，接著以中速進(jìn)行4小時(shí)，接著再以低速進(jìn)行4小時(shí)。觀察報(bào)點(diǎn)坐標(biāo)超出范圍。
判定標(biāo)準(zhǔn)：測(cè)試過(guò)程中不應(yīng)有斷線
